當前位置:首頁 > 星空体育官网首页入口 > 分析電子天平 > 精密分析天平 > JD係列天平固體(ti) 密度測試裝置
詳細介紹
產(chan) 品信息:密度測量裝置與(yu) 電子天平結合,測量精度可達千分之一。操作簡單,可實現固體(ti) 密度的高精度測量。
性能參數:
型號 | zui大稱量 | zui小讀數 | 稱盤尺寸 | 外形尺寸 |
JD1000-3 | 1000g | 0.001 | Φ160mm |
330×200×285mm |
JD500-3 | 500g | Φ90mm | ||
JD400-3 | 400g | |||
JD300-3 | 300g | |||
JD200-3 | 200g | |||
JD100-3 | 100g |
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